Патент №2007703 - Способ спектрального анализа элементного состава вещества и устройство для его осуществления

Использование: в контрольно-измерительной технике и дистанционных бесконтактных способах исследования элементного состава вещества. Сущность изобретения: при возбуждении лазерной плазмы в исследуемом веществе путем фокусировки излучении лазера на объект исследования и при последующей регистрации эмиссионного спектра вводятся дополнительные элементы, обеспечивающие достижение оптимальных характеристик как при фокусировке лазерного луча, так и при регистрации спектра. При этом вводится внутренний репер. Устройство дополнительно снабжено генератором импульсов и стробирующим генератором. 6 ил.

Патент №2007703, изображение 1
Патент №2007703, изображение 2
Патент №2007703, изображение 3

Классификация патента

Код Наименование
МПК G01N 21/00Исследование или анализ материалов с помощью оптических средств, т.е. с использованием инфракрасных, видимых или ультрафиолетовых лучей