Патент №2010222 - Способ градуирования аналитического прибора

Изобретение относится к метрологии, в частности к методам градуирования аналитических приборов. Сущность изобретения: способ градуирования аналитического прибора включает подготовку и ввод в прибор пробы из смеси с градуировочными компонентами и стандартным образцом, компоненты которого выбирают с возможностью химического реагирования с компонентами градуировочной смеси, получение на приборе векторных сигналов, соответствующих пробам до и после реакций, и определение градуировочных коэффициентов путем обработки векторных сигналов, что позволяет повысить точность градуирования прибора и снизить трудозатраты.