Патент №2011160 - Способ определения микродеформации образца

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к измерениям микродеформации образца. Цель изобретения - обеспечение возможности определения микродеформации образцов криволинейной формы, например крестообразных твэлов. На поверхность образца наносят фотослой, в качестве которого используют светочувствительный слой фотопленки, например сухого пленочного фоторезиста, который предварительно экспонируют через шаблон с координатной сеткой. Образец с сфотографированной на его поверхности координатной сеткой нагружают. При этом с помощью микроскопа измеряют размеры ячеек координатной сетки до и после нагружения и по результатам измерений определяют микродеформацию образца с криволинейной поверхностью, например крестообразного твэла. 1 з. п. ф-лы, 2 ил.