Патент №2011322 - Способ исследования лемешно-отвальных поверхностей и устройство для его осуществления

Использование: в сельскохозяйственной технике и на испытательных стендах. Сущность изобретения: на экран проецируют световой поток от исследуемой лемешно-отвальной поверхности. По уровням сечения почвенного пласта, которые моделируются на экране, определяют параметры взаимодействия указанной поверхности с почвенным пластом. 2 с. п. ф-лы, 2 ил.

Патент №2011322, изображение 1
Патент №2011322, изображение 2

Классификация патента

Код Наименование
МПК A01B 15/00Узлы, рабочие органы и детали плугов
МПК G01M 15/00Испытание машин и двигателей