Патент №2042295 - Устройство для климатических испытаний полупроводниковых приборов

Изобретение относится к устройствам для контроля и сортировки электронных деталей, в частности полупроводниковых приборов. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей, повышение надежности в работе. Цель достигается тем, что механизм загрузки снабжен средством сортировки полупроводниковых приборов, контактным механизмом и приемником годных и бракованных приборов, а ячейки транспортера установлены попарно и выполнены в виде расположенных параллельно в одной плоскости направляющих, напротив которых размещена крышка с образованием каналов для приборов, в донной части которых установлены плечи рычагов-упоров, закрепленных на крышке. 5 ил.

Патент №2042295, изображение 1
Патент №2042295, изображение 2
Патент №2042295, изображение 3

Классификация патента

Код Наименование
МПК H01L 21/00Способы и устройства, специально предназначенные для изготовления или обработки полупроводниковых приборов или приборов на твердом теле или их частей
МПК H05K 13/00Способы и устройства для изготовления и налаживания блоков электрической аппаратуры