Патент №2142623 - Способ рентгеноструктурного анализа

Использование: при рентгеноструктурном контроле кристаллогеометрических параметров большеугловых границ зерен, описываемых тетрагональными решетками совпадающих узлов (РСУ), в поликристаллических материалах с любым размером зерна для интегрального определения текстуры этих границ и повышения точности определения ориентаций индивидуальных пар зерен в металлопрокате массового производства с любым размером зерна. Сущность изобретения: текстурную приставку дифрактометра разворачивают на углы и , исходя из расчета фантомной K-дифракции (hkl) РСУ, получают дифракционную картину в виде -профиля в системе внешних осей образца, но рассчитывают в системе осей гониометра азимутальные углы максимумов интенсивности лауэ-спектра от реперов - параллельных в парах кристаллитов плоскостей (HKL)1 и (HKL)2 с одинаковыми кратными межплоскостными расстояниями, а точные ориентации зерен, образующих спецграницы, вычисляют из ориентационных соотношений. 2 ил., 1 табл.