Патент №2144663 - Способ радиографического контроля изделий

Изобретение может быть использовано для радиографического контроля качества сварных соединений и литых деталей, определения эффективности внедрения кумулятивной струи, определения перемешивания материалов при ударно-волновом нагружении и может использоваться в различных отраслях народного хозяйства. Сущность изобретения заключается в облучении контролируемого объекта ионизирующим излучением, например нейтронами. Затем осуществляют контактирование облученного объекта с необлученным, подвергают их деформационному воздействию и разрезают в интересующей плоскости. Плоскость среза обрабатывают и исследуют ее изображение, полученное регистрацией распределения радиоактивных частиц радиографическим методом. Изобретение позволяет повысить оперативность путем упрощения способа и увеличить точность за счет повышения контрастной чувствительности. 4 ил.

Патент №2144663, изображение 1
Патент №2144663, изображение 2
Патент №2144663, изображение 3

Классификация патента

Код Наименование
МПК G01N 23/00Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе 21/00 или 22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения