Патент №2270470 - Анализатор параметрических отказов и сбоев

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при проектировании, производстве, испытаниях и эксплуатации радиоэлектронных изделий (РЭИ). Техническим результатом является расширение класса решаемых задач и повышение достоверности результатов анализа за счет введения контроля моментов возникновения сбоев и их длительности, псевдопараллельной обработки контролируемых параметров. Указанный результат достигается за счет того, что анализатор отказов содержит блок контроля постепенных отказов, блок контроля сбоев, содержащий делитель частоты, счетчики импульсов, вычитатели, элемент ИЛИ, табло отображения и блок управления, содержащий селектор данных, счетчик импульсов по модулю N, генератор тактовых импульсов, элементы задержки, блок ячеек памяти, элементы И, элементы ИЛИ. 1 ил.