Патент №2301986 - Ик-спектроскопический способ определения размера пор микропористого материала

ИК-спектроскопический способ определения размеров пор микропористого материала, например полимерных пленок, включает предварительное изготовление эталонных образцов со стандартным диаметром пор, имеющих ту же химическую природу, что и исследуемый образец, регистрацию ИК-спектров пропускания эталонных образцов и определение по ним значения волнового числа, при котором пропускание ИК-излучения равно 50% (точка перегиба), с получением эталонных гистограмм. По точкам перегиба в спектре пропускания исследуемого образца находят размеры пор. Способ может найти применение в производстве сорбентов, в частности для очистки сточных вод от нефтепродуктов, в производстве полупроницаемых мембран, в частности для фильтрации крови. 6 ил.

Патент №2301986, изображение 1
Патент №2301986, изображение 2
Патент №2301986, изображение 3

Классификация патента

Код Наименование
МПК G01N 15/08Исследование свойств частиц; определение проницаемости, пористости или площади поверхности пористых материалов - определение проницаемости, пористости или поверхностной площади пористых материалов