Патент №2309455 - Способ компенсации погрешности масштабирования системы технического зрения для микроизмерений

Способ компенсации погрешности масштабирования системы технического зрения для микроизмерений состоит в том, что в пространстве предметов размещают эталонный объект и регулируют световые параметры системы технического зрения. При этом в пространстве предметов вместе с эталонным объектом размещают объекты измерения. Приводят все объекты в состояние касания и регулировкой световых параметров (яркость изображения, сила света, чувствительность фотоприемника, длина волны) системы технического зрения доводят до соприкосновения изображения объектов, сформированные в цифровой форме системой технического зрения. Технический результат - уменьшение погрешности масштабирования, проявляющейся в виде завышенных или заниженных размеров объектов измерения, при нормальных размерах эталонного объекта. 3 ил.