Патент №2310188 - Спектроскопический способ определения пористости материалов

Способ включает изготовление образца исследуемого материала, размещение его перед источником ИК-излучения и регистрацию спектра. Предварительно строится градуировочная зависимость пористости от коэффициента поглощения по эталонным монолитным образцам, имеющим ту же химическую природу, что и исследуемый образец. В зарегистрированном спектре исследуемого образца выбирают интенсивную полосу поглощения и с помощью градуировочной зависимости определяют пористость исследуемого образца с учетом его коэффициента поглощения. Способ может найти применение в производстве пористых материалов, в первую очередь сорбентов и полупроницаемых мембран. 3 ил.

Патент №2310188, изображение 1
Патент №2310188, изображение 2
Патент №2310188, изображение 3

Классификация патента

Код Наименование
МПК G01N 15/08Исследование свойств частиц; определение проницаемости, пористости или площади поверхности пористых материалов - определение проницаемости, пористости или поверхностной площади пористых материалов