Патент №2331059 - Способ контроля качества дефектоскопических материалов

Изобретение относится к способам неразрушающего контроля с использованием проникающих веществ. Способ состоит в том, что тест-объект обрабатывают набором дефектоскопических материалов, позиционируют в темновой камере, освещают излучением в видимом диапазоне спектра и фиксируют изображение индикаций дефектов при помощи цифровой фотокамеры. Затем удаляют дефектоскопические материалы с поверхности тест-объекта и повторяют всю процедуру с использованием контролируемого набора дефектоскопических материалов, после чего передают изображения на компьютер и проводят количественную оценку качества контролируемых дефектоскопических материалов, основанную на вычислении и сравнении яркости и градиента яркости индикаций дефектов на изображениях, полученных с использованием принятого за эталонный и контролируемого набора дефектоскопических материалов. Техническим результатом является повышение объективности оценки, а также обеспечение возможности получения цифровых изображений индикаций дефектов, их документирования и хранения на компьютере.

Патент №2331059, изображение 1
Патент №2331059, изображение 2
Патент №2331059, изображение 3

Классификация патента

Код Наименование
МПК G01N 21/91Исследование или анализ материалов с помощью оптических средств, т.е. с использованием инфракрасных, видимых или ультрафиолетовых лучей - с использованием проникающих красителей, например флуоресцентных чернил