Патент №2418290 - Гамма-дефектоскоп

Использование: для дефектоскопии изделий посредством гамма-излучения. Сущность: заключается в том, что гамма-дефектоскоп содержит корпус с источником излучения в блоке радиационной защиты, составленным из неподвижной части с коллимационной щелью и подвижного сегмента, с возможностью помещения его в сопрягаемую коллимационную щель, кулису для перемещения подвижного сегмента блока защиты, ручку для переноса гамма-дефектоскопа, шарнирно укрепленную в корпусе, а также дистанционный привод для выпуска и перекрытия пучка излучения, при этом шарниры ручки выполнены в виде поворотных цапф, снабженных профилированными кулачками, кинематически блокирующими кулису при перемещении ручки из горизонтального положения в направлении к вертикальному, и, кроме того, кулиса армирована пружинным элементом, несущим на себе подвижную часть блока защиты. Технический результат: повышение безопасности и удобства эксплуатации дефектоскопа. 2 ил.

Патент №2418290, изображение 1
Патент №2418290, изображение 2

Классификация патента

Код Наименование
МПК G01N 23/00Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе 21/00 или 22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения