Патент №2488182 - Способ моделирования комплексного радиационного воздействия на объект исследования

Способ моделирования комплексного радиационного воздействия на объект исследования относится к области физики радиационного воздействия на материалы, изделия электронной техники, радиоэлектронной аппаратуры и предназначено для испытаний с целью разработки аппаратуры с повышенной устойчивостью к радиационному воздействию, в частности может применяться в способах моделирования комплексных излучений, а также для проверки существующих методов расчета стойкости облучаемых объектов. Способ включает формирование импульсного гамма-нейтронного излучения и импульсного тормозного излучения. Новым в изобретении является то, что дополнительно, не менее чем в течение часа, до формирования импульсного излучения генерируют стационарное низкоинтенсивное гамма-нейтронное излучение, с плотностью потока частиц не менее 109 см2·с-1 и воздействие на объект исследования импульсным гамма-нейтронным излучением осуществляют на его фоне. Технический результат способа заключается в обеспечении более широкого набора дестабилизирующих факторов испытания объекта исследования, что приближает модель к реальным условиям возможного воздействия, тем самым повышает достоверность определения характеристик радиационной стойкости объекта исследования. 1 ил.