Патент №2508524 - Фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения и устройство, его реализующее
Способ заключается в том, что изображение объекта фокусируют объективом в плоскости приемника, сканируют его возвратно-поступательно вдоль линейки элементов приемника, предварительно определяют номер N облучаемого элемента приемника, выключают выходы остальных элементов, осуществляют периодическое равномерное возвратно-поступательное сканирование изображения объекта облучаемым элементом с амплитудой, равной ширине элемента b, формируют опорные импульсы в середине каждого полупериода сканирования, измеряют временные интервалы t1 и t2 между фронтами сигналов и опорными импульсами в каждом полупериоде сканирования и измеряют их разность t= t2- t1. Линейное перемещение х изображения объекта определяют по формуле x=Nb+b t/T, где T - полупериод сканирования. Устройство содержит объектив, многоэлементный приемник излучения в виде линейки, электронный модуль обработки сигнала при сканировании изображения объекта в пределах ширины одного элемента приемника и линейный двигатель для обеспечения возвратно-поступательного перемещения оправы приемника в пределах ширины его элемента. Технический результат - повышение точности измерений линейных перемещений. 2 н.п. ф-лы, 2 ил.
Классификация патента
Код | Наименование |
---|---|
МПК G01B 11/00 | Приспособления к измерительным устройствам, отличающиеся оптическими средствами измерения |
МПК G01B 11/14 | Приспособления к измерительным устройствам, отличающиеся оптическими средствами измерения - для измерения расстояния или зазора между разнесенными предметами или отверстиями 11/26 имеет преимущество; дальномеры G 01C |