Патент №2512659 - Способ измерения длины распространения инфракрасных поверхностных плазмонов по реальной поверхности

Изобретение относится к области бесконтактного исследования поверхности металлов оптическими методами, а именно к способу измерения длины распространения поверхностных плазмонов, направляемых этой поверхностью. Способ включает измерение интенсивности излучения вдоль трека плазмонов и расчет значения длины распространения по результатам измерений. При этом проводят измерение интенсивности объемного излучения, порожденного плазмонами на естественных неоднородностях поверхности, представляющих собой статистически равномерно распределенные вариации оптических постоянных и шероховатости. Измерения осуществляют за пределами поля плазмонов. Технический результат заключается в повышении точности измерений. 1 ил.

Патент №2512659, изображение 1
Патент №2512659, изображение 2

Классификация патента

Код Наименование
МПК G01J 3/45Спектрометрия; спектрофотометрия; монохроматоры; измерение цвета - интерферометрическая спектрометрия
МПК G01N 21/00Исследование или анализ материалов с помощью оптических средств, т.е. с использованием инфракрасных, видимых или ультрафиолетовых лучей