Патент №2520945 - Способ определения амплитуды нановибраций по спектру частотномодулированного полупроводникового лазерного автодина

Использование: для определения амплитуды нановибраций. Сущность изобретения заключается в том, что освещают вибрирующий на частоте объект лазерным излучением, преобразуют отраженное от объекта излучение в электрический автодинный сигнал, раскладывают сигнал в спектральный ряд, при этом лазерное излучение частотой 0 модулируют с частотой , равной частоте колебаний объекта, добиваются совпадения начальных фаз колебаний объекта и частотной модуляции лазера, измеряют амплитуду второй C2 и четвертой C4 гармоник спектра автодинного сигнала, по зависимости С2 /С4( ) вычисляют значение аргумента функции Бесселя первого рода , затем модулированным лазерным излучением освещают невибрирующий объект, измеряют значение амплитуд второй C2cal и четвертой C4cal гармоник спектра отраженного автодинного сигнала, по зависимости C2cal/C4cal( M) вычисляют значение аргумента функции Бесселя первого рода M, амлитуду нановибраций находят по определенному математическому выражению. Технический результат: повышение точности при определении амплитуды нановибраций. 9 ил.

Патент №2520945, изображение 1
Патент №2520945, изображение 2
Патент №2520945, изображение 3

Классификация патента

Код Наименование
МПК B82B 1/00Наноструктуры
МПК G01R 29/04Устройства для измерения или индикации электрических величин, не отнесенные к группам 19/00 - для измерения коэффициента формы кривой, т.е. отношения среднеквадратичного значения к среднему арифметическому мгновенного значения; для измерения коэффициента амплитуды, т.е. отношения максимального значения амплитуды к среднеквадратичному