Патенты автора — Лютцау А.В.
Страна - Россия (RU), количество патентов - 12, получены - 1996-2012
- G01 – Измерение
- G21 – Ядерная физика, ядерная техника
- Способ идентификации рентгенографических рефлексов на полусферической поверхности
Использование: при выполнении рентгенодифрактометрических исследований. Технический результат: обеспечение высокой точности определения координат рентгенографических рефлексов и сокращение времени экспозиции при рентгенодифрактометрических...
- Устройство для нагружения образца
Изобретение относится к испытательной технике. Устройство содержит захваты для образца, рабочий орган, четыре направляющих колонны и неподвижную направляющую. Каждый захват для образца и неподвижная направляющая выполнены с отверстиями, одно из...