Патент №2035697 - Способ комплексирования измерений

Использование: в измерительной технике, а более конкретно в способах и устройствах комплексного контроля качества продукции по совокупности нескольких входных величин, например для контроля качества продукции химических и горных производств, контроля качества композитных и полупроводниковых материалов и т.п. Сущность изобретения состоит в том, что для повышения точности измерений при одновременном повышении экспрессности по способу комплексирования измерений, включающему многократное измерение каждой из m входных величин с использованием преобразователей информации и определение средних значений, в качестве m входных величин используют стохастически связанные между собой величины, например, интенсивности излучения в пике и на крыльях спектра, в качестве преобразователей информации используют m-канальный амплитудный анализатор, средние значения определяют одновременным интегрированием за заданное время, по отношению двух средних значений входных величин для стандартного образца изменяют коэффициент преобразования амплитудного анализатора до получения априорно установленного значения отношения, после чего измеряют средние значения m входных величин для пробы с неизвестным значением контролируемого параметра, по которым определяют значение параметра. 2 ил.

Патент №2035697, изображение 1
Патент №2035697, изображение 2

Классификация патента

Код Наименование
МПК G01D 21/00Способы и устройства для измерения или испытания, не отнесенные к другим подклассам