Патент №2046365 - Способ отбраковки кмоп интегральных схем по уровням надежности
Использование: электронная техника. Сущность изобретения: на испытуемую интегральную схему (ИС) подают входную тестовую последовательность с амплитудой, равной напряжению питания ИС и соответствующей критическому уровню. По величинам отклонения времени распространения данной ИС от среднего значения при включении, либо выключении ИС от установленного критерия производят отбраковку ИС по надежности. 1 ил. 1 табл.
Классификация патента
| Код | Наименование |
|---|---|
| МПК G01R 31/00 | Устройства для определения электрических свойств; устройства для определения местоположения электрических повреждений; устройства для электрических испытаний, характеризующихся объектом, подлежащим испытанию, не предусмотренным в других подклассах |