Патент №2084972 - Способ записи данных при тестировании устройства памяти и устройство для проверки памяти
Изобретение имеет средства записи данных, средства проверки данных и схему управления. Способ записи данных при тестировании устройства памяти содержит этапы генерирования разности напряжений между парой битовых линий B/L и и прямого запоминания данных на конденсаторе ячейки памяти. Прямая запись на битовых линиях может быть возможна по данному изобретению. Кроме того, каждая ячейка памяти может быть полностью проверена за один цикл, и время проверки может быть значительно снижено. 2 с. 2 з.п. ф-лы, 1 ил.
Классификация патента
Код | Наименование |
---|---|
МПК G11C 29/00 | Контроль правильности работы запоминающих устройств; испытание запоминающих устройств во время режима ожидания или автономного режима работы |
МПК G11C 7/00 | Устройства для записи или считывания информации в цифровых запоминающих устройствах |