Патент №2123173 - Устройство для измерения фотоэлектрических параметров многоэлементных приемников излучения (варианты)

Изобретение относится к измерениям таких параметров, как интегральная чувствительность, пороговая облученность, их неоднородности по полю измеряемого многоэлементного приемника излучения, и позволяет повысить точность измерения фотоэлектрических параметров многоэлементных приемников излучения при одновременном снижении стоимости устройства, его габаритов, а также повышении корректности измерений параметров ИК приемников. Для достижения указанного технического результата устройство может быть выполнено в двух вариантах. В первом варианте устройство для измерения фотоэлектрических параметров многоэлементных приемников излучения содержаит источник излучения, соосный с расположенным в непрозрачном корпусе посадочным местом измеряемого приемника излучения и снабженным заслонкой окном корпуса, а также блок регистрации и обработки сигналов, источник имеет плоскую излучающую поверхность, а радиус входного окна корпуса вычисляется из определенного соотношения. Во втором варианте устройство наряду с указанными признаками содержит оптическую систему, выполненную в виде прозрачной пластины с по крайней мере одной, расположенной в центре непрозрачной областью правильной формы. При этом целесообразно размещение оптической системы в окне корпуса. 2 с. и 4 з.п. ф-лы, 5 ил.