Патент №2149352 - Устройство для измерения деформаций конструкций из композиционных материалов при повышенных температурах
Изобретение относится к измерительной технике, в частности к средствам измерения деформаций конструкций летательных аппаратов при испытаниях на прочность. Устройство состоит из упругой подложки, выводных проводов, узлов крепления и конструкции и монтажной рамки. Упругая подложка выполнена двухслойной из электропроводного полимерного композиционного материала с высоким удельным электрическим сопротивлением, чувствительностью к деформациям и с коэффициентом термического расширения? близким с материалом исследуемой конструкции. Изготовлен упругий элемент в виде двухопорной арки с узлами крепления к конструкции. Внешний и внутренний слои упругой подложки электрически изолированы друг от друга и от узлов крепления диэлектрической прокладкой, концы слоев металлизированы в зонах прикрепления выводных проводов. Слои электрически соединены по схеме измерительного полумоста, а узлы крепления установлены в съемной монтажной рамке. Технический результат изобретения: увеличение точности и диапазона измерения деформаций, увеличение диапазона рабочих температур, уменьшение погрешности измерения от воздействия электромагнитных помех, сокращение затрат на изготовление. 1 з.п. ф-лы, 2 ил.
Классификация патента
Код | Наименование |
---|---|
МПК G01B 7/00 | Измерительные устройства, отличающиеся использованием электрических или магнитных средств |