Патент №2164686 - Способ анализа геометрических структурных параметров ткани
Изобретение относится к оптическим методам неразрушающего контроля параметров тканых материалов и может быть использовано при создании датчиков контроля этих параметров. Исследуемый участок материала освещают параллельным пучком монохроматического света. Освещение материала проводят под углом падения света на материал > 0 в горизонтальной плоскости, перпендикулярной направлению исследуемой нити в ткани. О величине изгиба нити судят по величине угла и значению угла по формуле где То - период расположения нитей в ткани, обвиваемых исследуемой нитью. Угол измеряется между горизонталью и средней линией дополнительных максимумов, которые появляются в дифракционной картине при > 0. Изобретение позволяет уменьшить время измерения параметров ткани и не разрушать структуру ткани при ее анализе. 1 табл., 7 ил.
Классификация патента
Код | Наименование |
---|---|
МПК G01N 21/00 | Исследование или анализ материалов с помощью оптических средств, т.е. с использованием инфракрасных, видимых или ультрафиолетовых лучей |
МПК G01N 33/00 | Исследование или анализ материалов особыми способами, не отнесенными к группам 1/00 |