Патент №2169376 - Способ встроенного контроля характеристик фазированной антенной решетки

Способ встроенного контроля характеристик фазированной антенной решетки (ФАР), при котором для определения характеристик ДН ФАР проводится СВЧ-контроль излучателей (И) и соединенных с ними каналов управления (КУ) в каждом из L = 2P их состояний, путем амплитудной модуляции поля ФАР последовательным изменением всех состояний фазовращателей (Ф) контролируемых КУ, и в каждом состоянии определяют отношение максимального значения амплитуды поля ФАР к минимальному - A0i и фазовый сдвиг Фi при максимальном значении амплитуды, которые сравнивают с их эталонными значениями Aэтi и Фi, контроль проводят без вывода РЛС из штатного режима в интервалы времени, находящиеся за пределами стробируемых участков дальности, при этом выявляют И, КУ которых неисправны, подвергают их СВЧ-контролю, по результатам выявленных при СВЧ-контроле параметров А0i, значения которых ниже значений Аэтi, осуществляют оценку влияния вышедших из строя И, при котором Ф всех И, находящиеся в круге радиусом 2-4 длины волны от контролируемого перефазируют, и в каждом состоянии путем СВЧ-контроля определяют параметры А0i и Фi, сравниваемые с их эталонными значениями Аэтi и Фэтi, различия между значениями A0i и Фi, а также Аэтi и Фэтi учитывают в процессе моделирования ДН ФАР. Технический результат заключается в расширении области применения. 2 ил.

Патент №2169376, изображение 1
Патент №2169376, изображение 2

Классификация патента

Код Наименование
МПК G01R 29/00Устройства для измерения или индикации электрических величин, не отнесенные к группам 19/00
МПК H01Q 3/00Устройства для изменения ориентации и(или) формы диаграммы направленности волн, излучаемых антенной или группой антенн