Патент №2171517 - Способ измерения электромагнитной дисперсионной характеристики гибридной замедляющей структуры в процессе изготовления пучково-плазменного свч-прибора и устройство для его осуществления

Способ измерения электромагнитной дисперсионной характеристики гибридной замедляющей структуры в процессе изготовления пучково-плазменного СВЧ-прибора включает формирование плазмы в пролетном канале отрезка исследуемой замедляющей структуры (ИЗС); введение в ИЗС СВЧ-колебания с частотой, меняющейся по линейному закону; определение резонансным способом значений частот резонансных откликов, соответствующих фазовым набегам в отрезке ИЗС, в пределах рабочего диапазона; построение дисперсионной характеристики на основе полученных данных, при этом формируют столб плазмы в пролетных каналах отрезка ИЗС и калибровочного резонатора путем зажигания электрического разряда в изолированной области, изменяют значение тока разряда и фиксируют положение дополнительного резонансного отклика, сформированного калибровочным резонатором, на частоте, значение которой определяют из приведенного соотношения. Устройство для реализации способа содержит отрезок ИЗС в виде периодической цепочки резонаторов с единым пролетным каналом и устройствами ввода и вывода СВЧ-колебаний, СВЧ-генератор качающейся частоты, индикаторный блок измерителя КСВН и ослабления, детектор падающей волны СВЧ-колебаний и детектор прошедшей или отраженной волны СВЧ-колебаний в ИЗС, устройство снабжено также газоразрядной трубкой с катодом и анодом, регулируемым источником тока разряда, калибровочным резонатором с пролетным каналом и устройствами ввода и вывода СВЧ-колебаний, детекторами прошедшей или отраженной волны СВЧ-колебаний в калибровочном резонаторе. Технический результат заключается в возможности получения высоких выходных параметров создаваемых пучково-плазменных СВЧ-приборов. 2 с.п. ф-лы, 5 ил.

Патент №2171517, изображение 1
Патент №2171517, изображение 2
Патент №2171517, изображение 3

Классификация патента

Код Наименование
МПК G01R 27/00Устройства для измерения активного, реактивного и полного сопротивления или электрических характеристик, производных от них
МПК H01J 23/00Конструктивные элементы приборов с использованием времени пролета электронов, отнесенных к группе 25/00
МПК H01J 25/00Приборы пролетного типа, например клистроны, лампы бегущей волны (ЛБВ), магнетроны