Патент №2179375 - Способ измерения спектральных характеристик отражения или излучения объекта в любой точке его телевизионного изображения и видеоспектрометр, реализующий этот способ в реальном или условном масштабе времени

Изобретение позволяет в реальном времени наблюдать изображение местности и одновременно измерять спектр отражения или излучения в отдельных его точках. Достигаемым техническим результатом является возможность точного измерения спектральных характеристик одновременно с измерением координат точек объекта, в которых производятся спектральные измерения. Для решения упомянутой задачи предложен способ измерения спектральных характеристик отражения или излучения объекта в любой точке его телевизионного изображения и видеоспектрометр, реализующий этот способ в реальном масштабе времени. Изображающим и измерительным устройством одновременно является ПЗС-матрица со схемой управления и набор нормированных светофильтров, спектральные характеристики пропускания которых выбраны так, чтобы спецвычислитель, включаемый после блока обработки получаемых видеосигналов и снабженный соответствующим пакетом программ, мог в реальном времени вычислять спектральные характеристики отражения (излучения) отдельных элементов изображения или их блоков. Аппаратная реализация может быть компактной (в десятки раз меньше применяемой ныне по объему) и устойчивой к воздействию механических и климатических факторов. 2 с. и 2 з. п. ф-лы, 4 ил.