Патент №2196296 - Способ измерения относительных деформаций конструкций при подключении тензорезисторов к тензометрической системе

Изобретение относится к измерительной технике и может применяться при экспериментальных исследованиях напряженно-деформированного состояния конструкций при нормальных температурах. Способ заключается в том, что кабели датчиков подсоединяют к разъемам коммутатора измерительной системы по четырехпроводной схеме, измеряют отклонения сопротивлений тензорезисторов от величины сопротивления опорного резистора измерительного устройства, проводят метрологическую поверку системы, определяют коэффициент преобразования и измеряют величину сопротивления опорного резистора, при этом кабели датчиков подсоединяют к тензорезисторам по двухпроводной схеме, измеряют сопротивление соединительных проводов, устанавливают величину опорного резистора, равную сумме номинального сопротивления тензорезистора и сопротивления соединительных проводов от тензорезистора до коммутатора. По измеренным значениям на каждой ступени нагружения конструкции определяют величину относительной деформации. Изобретение позволяет снизить затраты на изготовление измерительной системы и повышает ее точность. 1 ил.