Патент №2247403 - Способ отбраковки ненадежных маломощных транзисторов

Использование: изобретение относится к микроэлектронике, а именно к обеспечению качества и надежности транзисторов за счет определения потенциально нестабильных транзисторов. Изобретение может быть использовано на этапе серийного производства полупроводниковых изделий, а также на входном контроле при производстве радиоаппаратуры. Сущность: способ отбраковки ненадежных маломощных транзисторов, включающий пропускание через испытуемый прибор серии импульсов прямого тока коллектора и измерение электрических параметров на соответствие техническим условиям, отличается тем, что амплитуда импульсного тока задается величиной 0,9-0,95 допустимого, время импульса 1-2 секунд и до 10 - количество импульсов. Технический результат изобретения: сокращение времени испытаний, повышение эффективности и исключение необходимости сравнения с эталонным образцом.