Патент №2276794 - Магнитно-силовой микроскоп с переменным магнитом

Изобретение относится к магнитно-силовым сканирующим зондовым микроскопам (МСМ) и может быть использовано для измерения локальных магнитных характеристик образца с нанометровым разрешением во внешнем магнитном поле. Согласно изобретению, магнитно-силовой микроскоп с переменным магнитом содержит блок управления, держатель зондового датчика с зондовым датчиком и держатель образца, установленные с возможностью взаимного перемещения, а также переменный магнит, включающий магнитопровод с полюсными наконечниками. Особенность изобретения состоит в том, что по крайней мере один из полюсных наконечников встроен в держатель образца и по крайней мере один полюсный наконечник пространственно отделен от магнитопровода. Одним из вариантов осуществления изобретения является встраивание в держатель образца пространственно отделенного полюсного наконечника, при этом другой полюсный наконечник установлен таким образом, что зондовый датчик будет расположен между полюсными наконечниками. В другом варианте в держатель образца встроены оба полюсных наконечника, причем оба полюсных наконечника пространственно отделены от магнитопровода. Технический результат изобретения заключается в увеличении разрешения магнитно-силового сканирующего зондового микроскопа с переменным магнитом. 2 з.п. ф-лы, 2 ил.