Патент №2373545 - Устройство для измерения параметров материалов

Изобретение относится к области радиотехники и электроники и может быть использовано как самостоятельно для измерения электрофизических параметров материалов, так и в качестве более сложных функциональных устройств: комплексных измерительных систем, комплексных систем по производству и контролю параметров материалов, автоматизированных измерительных, производственных и производственно-измерительных комплексов и т.д. Устройство согласно изобретению представляет собой прямоугольный волновод с подключенный к нему СВЧ-генератором, имеющий короткозамыкатель 2, измерительное устройство. Устройство содержит штырь 3, установленный в центральной части на одной из широких стенок волновода 1 параллельно короткозамыкателю 2. Высота штыря h меньше размера волновода b, так что между штырем и другой широкой стенкой имеется зазор. Короткозамыкатель 2 имеет на поверхности, обращенной внутрь волновода, полукруглую выемку 4, по всей его ширине параллельную штырю, и отверстие 5, в выемке коаксиально расположен зонд в виде иглы 6, с помощью петли связи 7 гальванически соединенный с короткозамыкателем 2, выступающий за пределы волновода 1. Расстояние от штыря 3 до короткозамыкателя 2 и величина зазора выбраны из условия возникновения резонанса с малым коэффициентом отражения. Изобретение обеспечивает одновременное измерение электрофизических параметров материала: диэлектрической проницаемости в диапазоне 1,5÷400, проводимости в диапазоне 2·10-2 Oм-1·м-1÷10 7 Oм-1·м-1. 1 ил., 1 табл.