Патент №2375703 - Способ оценки величины относительной погрешности полученного экспериментально процентного содержания элемента к аттестованному процентному содержанию элемента посредством рентгенофлуоресцентного анализа

Использование: для рентгенофлуоресцентного анализа. Сущность: заключается в том, что формируют комплект образцов известного химического состава, включающий аттестованные стандартные образцы, последовательно облучают образцы комплекта, измеряют интенсивности аналитических линий, при этом по результатам измерений создают информационный массив, с возможностью сортировки данного массива, из полученных в результате измерений собственных интенсивностей аналитических линий флуоресценции при выполнении сканирования стандартных образцов и аттестованных процентных содержаний элементов, строят график зависимости экспериментально измеренной интенсивности аналитической линии от аттестованных процентных содержаний элементов в табличном числовом виде, сортировку информационного массива производят по возрастанию числового значения измеренной интенсивности аналитических линий флуоресценции исследуемого элемента, для каждой измеренной интенсивности аналитической линии вычисляют теоретический коэффициент пересчета, производят цикл аппроксимации данных введением в информационный массив практического коэффициента пересчета и корректировочных коэффициентов межэлементных влияний, цикл аппроксимации данных повторяют для каждого элемента, содержащегося в образцах, после чего получают экспериментально рассчитанную концентрацию исследуемого элемента и определяют величину относительной погрешности полученного экспериментально процентного содержания элемента к аттестованному процентному содержанию элемента. Технический результат: повышение точности определения величины относительной погрешности содержания элемента. 2 з.п. ф-лы, 1 табл.

Патент №2375703, изображение 1

Классификация патента

Код Наименование
МПК G01N 23/223Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе 21/00 или 22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения - облучением образца рентгеновскими лучами и измерением рентгенофлуоресценции