Патент №2378645 - Способ настройки ультразвуковых дефектоскопов

Использование: для настройки ультразвуковых дефектоскопов. Сущность: заключается в том, что осуществляют настройку и проверку параметров ультразвукового дефектоскопа посредством матричного устройства, с нанесенными на его поверхность плоскими угловыми отражателями, имитирующими форму и размеры реальных дефектов, путем установки на рабочую поверхность матричного устройства наклонного преобразователя и последовательного сканирования ряда рабочих поверхностей плоских угловых отражателей, выполненных с изменяющимися линейно площадями, до получения эхо-сигналов, получают от всех рабочих поверхностей угловых отражателей разные по величине эхо-сигналы, амплитуды которых фиксируют индикатором дефектоскопа в положительных и в отрицательных единицах децибел в диапазоне изменения величин от любого опорного отражателя, для которого изменение в децибелах равно нулю, до максимальной величины от отражателя максимального размера; затем полученные значения амплитуд эхо-сигналов заносят в таблицу и строят график-аттестат экспериментальной зависимости набора отношений амплитуд эхо-сигналов в диапазоне от +6 дБ до -20 дБ от соответствующего им набора отношений размеров площадей плоских угловых отражателей, и путем анализа и сравнения значений амплитуд эхо-сигналов, полученных при определенном шаге сканирования размером менее 2 дБ, определяют линейность электроакустического тракта дефектоскопа и судят о ее соответствии полю допуска, устанавливаемого нормативными документами, в случае ее выхода за пределы поля допуска, осуществляют посредством аттенюатора дефектоскопа перенастройку аппаратуры до достижения линейности электроакустического тракта. Технический результат: повышение уровня и универсальности ее настройки параметров линейности электроакустического тракта, предельной чувствительности и определения допустимого диапазона ее применимости при реальной диагностике. 1 з.п. ф-лы, 1 ил.

Патент №2378645, изображение 1

Классификация патента

Код Наименование
МПК G01N 29/00Исследование или анализ материалов с помощью ультразвуковых, звуковых или инфразвуковых волн; визуализация внутреннего строения объектов путем пропускания через них ультразвуковых или звуковых волн через предметы