Патент №2392609 - Способ оценки размера дефекта в направлении просвечивания

Использование: для оценки размера дефекта в направлении просвечивания. Сущность: заключается в том, что производят сравнение изображений радиографируемых на один снимок эталонных и реальных дефектов, при этом на контролируемое сварное соединение устанавливают эталон-имитатор с клиновидной протяженной канавкой глубиной ( dэт.д.), равной предельно допустимой глубине реального дефекта, и проводят после выполнения снимка замеры ширины изображений дефектов, замеры и сравнение контраста изображения выявленного реального дефекта ( Dр.д.) и контраста изображения клиновидной эталонной канавки ( Dэт.д.) на длине ее изображения, где замеряемая ширина канавки равна ширине изображения реального дефекта, после чего осуществляют оценку размера дефекта в направлении просвечивания ( dр.д.) согласно следующему выражению dр.д.=[( Dр.д.)/( Dэт.д.)] dэт.д.. Технический результат: повышение надежности и точности оценки размера дефекта в направлении просвечивания. 2 ил.