Патент №2400714 - Способ определения коэффициента затухания поверхностной электромагнитной волны инфракрасного диапазона за время одного импульса излучения

Заявленное изобретение относится к способу определения коэффициента затухания ПЭВ ИК-диапазона за время одного импульса излучения. При этом при реализации способа возбуждают контролируемый пучок параллельных лучей ПЭВ на плоской поверхности образца падающим монохроматическим излучением. Измеряют интенсивности поля ПЭВ. При этом контролируемый пучок лучей ПЭВ разделяют на два пучка параллельных лучей и измеряют интенсивности полученных пучков после пробега ими различных расстояний x1 и x 2 по несовпадающим трекам. А затем рассчитывают величину коэффициента затухания по формуле: ,где I1 и I2 - интенсивности пучков после пробега ими расстояний x1 и х2 , где x2>x1. Заявленное изобретение направлено на повышение точности измерений и обеспечение возможности визуального контроля исследуемой поверхности и свободного доступа к ней в процессе измерений. 1 ил.