Патент №2415447 - Устройство для отбраковки диодов
Изобретение относится к области микроминиатюризации и технологии радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля параметров полупроводниковых диодов при их производстве. Технический результат: повышение точности и достоверности отбраковки. Сущность: устройство содержит двухпороговый компаратор 1, первый источник опорного напряжения 2, генератор пилообразного напряжения 3, второй источник опорного напряжения 4, испытуемый диод 5, третий источник опорного напряжения 6, компаратор 7, 1 интегрирующее устройство 8 и преобразователь ток - напряжение 9. 1 ил.
Классификация патента
| Код | Наименование |
|---|---|
| МПК G01R 31/26 | Устройства для определения электрических свойств; устройства для определения местоположения электрических повреждений; устройства для электрических испытаний, характеризующихся объектом, подлежащим испытанию, не предусмотренным в других подклассах - испытание отдельных полупроводниковых приборовизмерение содержания примесей G 01N |