Патент №2441227 - Способ магнитной дефектоскопии изделий в напряженном состоянии

Предложен способ магнитной дефектоскопии изделий в напряженном состоянии. В способе намагничивают исследуемый объект с целью получения симметричного магнитного поля относительно геометрии профиля сечения объекта, с образованием магнитных полюсов на выбранной оси симметрии профиля сечения объекта. Измеряют значения магнитной индукции в выбранных для исследования попарно симметричных точках профиля сечения на границах объекта наблюдения и передаются на устройство сравнения или обрабатываются вручную. При этом по сравниваемым значениям индукции в указанных точках судят о наличии и характере напряженного состояния в зонах сечения. Сравнение этих значений с эталонными дает возможность судить об опасности превышения допускаемых напряжений и о нарастании усталостных процессов в материале объекта наблюдения. Техническим результатом является оперативное выявление и оценка местных напряжений в материале конструкций с помощью стационарных и мобильных технических средств.