Патент №2453885 - Способ исследования отклонений от плоскости

Изобретение относится к области проекционной кинотехники. Согласно способу киноленту с отснятым на ней изображением с мелкими деталями склеивают в кольцо. Орган перемещения проекционного объектива по оптической оси дополняют шкалой, позволяющей учитывать его перемещения по оптической оси. Кольцо просматривают на экране и отмечают на изображении с мелкими деталями не менее чем в трех горизонтальных рядах по не менее чем в пяти местах точки для фокусирования. Снимают и записывают по шкале показания для точек, по ним строят семейство топографических диаграмм отклонений киноленты в кадровом окне от плоскости. Технический результат - расширение арсенала технических средств.

Классификация патента

Код Наименование
МПК G03B 43/00Испытание фотографической аппаратуры и ее элементов