Патент №2464593 - Прямые модели для анализа подземных формаций с помощью измерения гамма-излучения

Использование: для анализа подземных формаций с помощью измерения гамма-излучения. Сущность: заключается в том, что осуществляют измерение гамма-излучения с использованием инструмента для измерения гамма-излучения, расположенного в скважине, окруженной формацией, для определения свойств формации, выполняя этапы, на которых: генерируют гамма-излучение с использованием источника гамма-излучения, установленного на измерительном инструменте, расположенном в скважине; обнаруживают гамма-излучение с использованием одного или более детекторов гамма-излучения, установленных на измерительном инструменте; и рассчитывают отклик измерительного инструмента в соответствии с одним или более свойствами формации во множестве пространственных местоположений относительно измерительного инструмента с использованием прямой модели, которая допускает нелинейные отношения между одним или более свойствами во множестве пространственных местоположений и соответствующим откликом измерительного инструмента, причем одно или более свойств, по меньшей мере, для некоторых из множества пространственных местоположений формации оценивают в соответствии с обнаруженным гамма-излучением. Технический результат: обеспечение преимущества в точности, универсальности и простоте с несущественными потерями в скорости вычислений. 6 н. и 44 з.п. ф-лы, 28 ил., 9 табл.