Патент №2472433 - Способ выявления патологических очагов в спинном мозге при рассеянном склерозе
Изобретение относится к медицине, неврологии и рентгенологии. Проводят МРТ-исследование спинного мозга на MP-томографе в сагиттальной проекции с напряженностью магнитного поля 1,5 Тл в модифицированном режиме STIR* с периодом повторения подачи импульса (TR) 3100 мс, временем появления эхо-сигнала (TE) 12 мс, временем инверсии (TI) 400 мс и общим временем исследования 3 мин 30 сек. При наличии на полученных изображениях участков с высокой интенсивностью сигнала выявляют патологические очаги в спинном мозге при рассеянном склерозе. Способ обеспечивает высокую чувствительность методики исследования за счет повышения контрастности патологических очагов. 2 пр., 1 табл., 2 ил.
Классификация патента
| Код | Наименование |
|---|---|
| МПК A61B 5/055 | Измерение для диагностических целей - с применением электронного или ядерного магнитного резонанса (ЯМР), например получение изображения с помощью магнитного резонансаустройства или приборы для измерения переменных магнитных величин с применением электронного или ядерного магнитного резонанса вообще G 01R 33/20 |