Патент №2480735 - Устройство для исследования распространения поверхностных электромагнитных волн (пэв) и средство для исследования влияния тонких пленок и микрообъектов на их распространение

Изобретение относится к оптике, к светотехнике, к оптическим методам анализа и оптическим способам исследования биологических и иных объектов. Устройство для исследования распространения поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ) вдоль образца, содержащего гладкую искривленную металлическую подложку, включает в себя источник и приемник объемной электромагнитной волны (ОЭВ), а также преобразователи ОЭВ в ПЭВ и ПЭВ в ОЭВ. Преобразователи представляют собой металлические лезвия, имеющие кромки, выполненные конгруэнтными поверхности образца. Лезвия установлены с возможностью регулирования ширины щели между их кромками и поверхностью упомянутого образца. Технический результат - повышение эффективности использования ОЭВ при исследовании образцов с криволинейной поверхностью. 2 н. и 7 з.п. ф-лы, 1 ил.

Патент №2480735, изображение 1

Классификация патента

Код Наименование
МПК G01N 21/17Исследование или анализ материалов с помощью оптических средств, т.е. с использованием инфракрасных, видимых или ультрафиолетовых лучей - системы, в которых на падающий свет влияют свойства исследуемого материалав которых исследуемый материал оптически возбуждается с тем, чтобы вызвать изменение длины волны падающего света 21/63