Патент №2485549 - Способ калибровки эмиссионных детекторов нейтронов

Изобретение относится к области ядерной техники, в частности к калибровке эмиссионных детекторов нейтронов для внутризонного контроля распределения энерговыделения в ядерных реакторах. Сущность изобретения заключается в том, что способ включает измерение на работающем реакторе чувствительности детекторов, которые, в дальнейшем, используют как эталонные детекторы, по чувствительности которых определяют чувствительность калибруемых детекторов, отличающийся тем, что у эталонных эмиссионных детекторов, состоящих из коллектора и эмиттера, изготовленного из порошкообразной двуокиси гафния (НfO2), заключенного в оболочку, измеряют вес эмиттера путем вычитания из общего веса оболочки и эмиттера веса оболочки, который определяют по формуле , (Н), где Rуд - удельное электрическое сопротивление материала оболочки эмиттера, (Ом·м); -плотность материала оболочки эмиттера, (кг/м3 ); g - ускорение свободного падения, (м/с2); L - длина оболочки эмиттера, (м); R - электрическое сопротивление оболочки эмиттера, (Ом); затем определяют зависимость между чувствительностью эталонных детекторов и весом их эмиттеров, после чего определяют чувствительность калибруемых эмиссионных детекторов по формуле: =APэмит+B, (А·с), где Рэмит - вес материала эмиттера, (Н); А - коэффициент, (А·с/Н); В - коэффициент, (А·С); причем вес эмиттеров калибруемых эмиссионных детекторов определяют также, как и вес эмиттеров эталонных детекторов, а значения коэффициентов А и В выбирают в диапазоне от 8,8·102 до 10,6-102 и от 7,6 до 9,2 соответственно. Технический результат - повышение надежности ядерных реакторов.

Классификация патента

Код Наименование
МПК G01T 3/00Измерение нейтронного излучения