Патент №2507495 - Способ контроля параметров оптико-электронных систем в рабочем диапазоне температур

Изобретение относится к области измерений и касается способа контроля параметров оптико-электронных систем (ОЭС). Способ основан на формировании изображения калиброванных источников излучения (мир) в плоскости матричного фотоприемного устройства (МФПУ), воспроизведении получаемой видеоинформации в одном из телевизионных стандартов и измерении сигналов на выходе ОЭС. При проведении измерений ОЭС крепят к турникету и размещают систему "ОЭС-турникет" в термокамере. Изображение миры перемещают по плоскости МФПУ за счет наклона линии визирования ОЭС в вертикальной и поворота системы "мира-коллиматор" в горизонтальной плоскостях. Число штрихов миры устанавливается достаточно большим (более 50 штрихов). Кроме того, в миру вводят дополнительную пару штрихов с низкой пространственной частотой. Пространственное разрешение ОЭС определяют путем сравнения амплитуд импульсов на низкой и высокой пространственных частотах. Технический результат заключается в повышении точности контроля параметров ОЭС в рабочем диапазоне температур. 4 ил.