Патент №2331864 - Способ выявления структуры на поверхности материала изделия

Изобретение относится к технике подготовки исследуемого материала, к изучению его микроструктуры с использованием оптики, и может быть использовано как способ послойного контроля структурного состояния металлов и сплавов, стекол, строительного материала после получения изделий, в процессе эксплуатации и установления причин внезапного разрушения изделий. Способ заключается в предварительной подготовке поверхности - очистке и обезжиривании, нанесении слоя полимера на предварительно нагретую поверхность на 50-150°С выше температуры плавления полимера, оплавление полимера на поверхности с образованием полимерного покрытия, и охлаждении изделия с покрытием. При этом на нагретую поверхность изделия из металла, стекла или изделия строительного назначения наносят слой расплава - прозрачного термоусадочного полимера и выдерживают его на поверхности изделия до выхода газовых пузырьков из пор изделия в расплав прозрачного полимера. Затем создают импульсное давление на полимерное покрытие, равное суммарному усилию схлопывания воздушных пузырьков в полимерном покрытии и усилию заполнения пор и капилляров в изделии расплавом полимера на заданную глубину, равную толщине отделяемого слоя изделия. Полученный в поверхностном слое изделия композит содержит в качестве наполнителя отделяемый слой изделия, а в качестве связки - материал полимерного покрытия. Охлаждение изделия с композитом на его поверхности проводят в режиме закалки. Выдерживают полимерное покрытие до окончания процесса усадки в нем, и отделяют механически слой композита от основного материала изделия. Исследование структурного состояния поверхностей отделяемого слоя и основного изделия проводят в отраженном свете на оптическом микроскопе. Технический результат изобретения заключается в выявлении межслоевой структуры в металле, стеклах и изделиях строительного назначения, упрощении способа выявления структуры слоев путем внедрения в поверхность исследуемого материала полимерного покрытия на заданную глубину отделяемого слоя, получении композиции, содержащей отделяемый слой в качестве наполнителя и полимерное покрытие в качестве связки, отрыв полученной композиции от основного материала и исследование структуры на поверхности как отделяемого слоя, так и основного материала в отраженном свете в оптическом микроскопе. 10 ил.